НОВОСТИ
Новый класс гетероструктур AlGaAs/GaAs
выращенных методом МОС-гидридной эпитаксии. Читайте статью в журнале Crystals v.9, 2019
ПодробнееXIV Российская конференция по физике полупроводников в сентябре
Наши коллеги примут участие в конференции и представят ряд докладов
ПодробнееСравнительный анализ квантовых ям GaAs/GaInP и GaAs/AlGaAs
полученных в условиях МОС-гидридной эпитаксии. Читайте в журнале «Неорганические материалы», том 55, №4, 2019
Подробнее«Сигм плюс» на 18-м европейском семинаре EW-MOVPE 2019, Литва
Наши специалисты примут участие в международном семинаре по газо-фазной эпитаксии EW-MOVPE, которая пройдет в Вильнюсе с 16 по 19 июня
Подробнее"Сигм плюс" и CS Clean Solutions AG приглашают на выставку SEMIEXPO
Выставка пройдет 14-15 мая в Экспоцентре на Красной Пресне, Павильон 7. Встречаемся на стенде В12
ПодробнееEpiX - модульная система исследования полупроводниковых пластин
Система 2D картирования пластин EpiX для научно-исследовательских разработок в области полупроводниковой эпитаксии
ПодробнееXXIII международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника» в марте
Наши коллеги примут участие в работе симпозиума и представят свои результаты
ПодробнееОценка условий труда по ФЗ № 426
Компания "Сигм плюс" провела обязательную оценку условий труда рабочих мест
ПодробнееНОВАЯ СИСТЕМА ЭСХА ОТ SPECS 2015-10-20
Новейшая интеллектуальная система EnviroESCA позволяет выйти за рамки стандартного РФЭС анализа, работая при давлениях гораздо выше вакуума. EnviroESCA идеально подходит для повседневного рутинного анализа, где требуется высокая скорость и простота оборудования, а также предоставляет широкие возможности для медицинских технологий и биотехнологий. Система позволяет сильно сократить время между загрузкой образца и измерением и работает с жидкостями, биологическими тканями, пластиками и фольгой, порошками, почвой, цеолитами, камнями, минералами и керамикой.
EnviroESCA - это полностью автоматическая ЭСХА система, состоящая из следующих модулей:
- Электронный спектрометр, состоящий из полусферического анализатора энергии с d=150 мм, системы линз с дифференциальной откачкой и многоканального 1D детектора с количеством каналов до 400
- Рентгеновский источник с микрофокусным монохроматором (Al Kα), диаметром круга Роланда 600 мм и размером пятна на образце 200 мкм - 1 мм
- Модуль нейтрализации заряда, представляющего собой источник низкоэнергетических электронов с дифференциальной откачкой
- Система откачки, обеспечивающая диапазон давлений от 10-8 мбар до 50 мбар
- Система дозирования газа
- Камеры - три цифровых микроскопа для передвижения образца и документирования
- Модуль для манипуляции образцомдо 60 мм в диаметре и до 40 мм в высоту, включающий в себя прецизионный столик, перемещающийся по трем осям, систему подачи газов, плазменный очиститель, цифровой микроскоп для наблюдения за образцом и т.д.
Подробнее о системе можно узнать на сайте, посвященном новому продукту.